二槽式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)-二槽式冷熱溫沖擊試驗(yàn)機(jī)配電圖 

概述:二槽式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)用途: 135 3237 0059張S 用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè),國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及
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2020-03-07 15:26:13 點(diǎn)擊78863次
分類:
服務(wù)區(qū)域:
全國(guó)
價(jià)格:
  • 28100 元
聯(lián)系電話:
13826953834
信用:4.0  隱性收費(fèi):4.0
描述:4.0  產(chǎn)品質(zhì)量:4.0
物流:4.0  服務(wù)態(tài)度:4.0
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二槽式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)特點(diǎn):  

產(chǎn)品外形美觀、結(jié)構(gòu)合理、工藝先進(jìn)、選材考究,具有簡(jiǎn)單便利的操作性能和可靠的設(shè)備性能。  

設(shè)備分為高溫箱,低溫箱,測(cè)試箱三部分,采獨(dú)特之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果,試驗(yàn)時(shí)待測(cè)物完全靜止,應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式將冷,熱溫度導(dǎo)入測(cè)試區(qū)實(shí)現(xiàn)冷熱沖擊測(cè)試目的.  

采用采用最先進(jìn)的計(jì)測(cè)裝置,控制器采用大型彩色液晶人機(jī)觸控對(duì)話式LCD人機(jī)接口控制器,操作簡(jiǎn)單,學(xué)習(xí)容易,穩(wěn)定可靠,中,英文顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、執(zhí)行及設(shè)定程序曲線。  

具96個(gè)試驗(yàn)規(guī)范獨(dú)立設(shè)定,沖擊時(shí)間999小時(shí)59分鐘,循環(huán)周期1~999次可設(shè)定,可實(shí)現(xiàn)制冷機(jī)自動(dòng)運(yùn)轉(zhuǎn),最大程度上實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化,減輕操作人員工作量,可在任意時(shí)間自動(dòng)啟動(dòng)﹑停止工作運(yùn)行;  

箱體左側(cè)具一直徑50mm之測(cè)試孔,可供外加電源負(fù)載配線測(cè)試部件。  

可獨(dú)立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能,并于執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí),可選擇二槽式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)設(shè)備概述:  

二槽式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)區(qū)分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分,各區(qū)之箱體釆獨(dú)特之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)。沖擊方式應(yīng)用風(fēng)路切換方式將溫度導(dǎo)入測(cè)試區(qū),做冷熱沖擊測(cè)試。高溫沖擊或低溫沖擊時(shí),最大時(shí)間可達(dá)9999分鐘,最大循環(huán)周期可達(dá)9999次。系統(tǒng)可作自動(dòng)循環(huán)沖擊或手動(dòng)選擇性沖擊并可設(shè)定二區(qū)或三區(qū)沖擊及冷沖熱沖啟始。冷卻采二元冷凍系統(tǒng),降溫效果快速,冷卻方式為風(fēng)冷式或水冷式兩種?蛇B接電腦,記錄儀僅為選購(gòu)件。采用彩色中英文LCD觸控式圖控操作介面,操作簡(jiǎn)易  

二槽式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)控制方式與特色:  

利用低溫及高溫蓄冷熱儲(chǔ)存槽,依動(dòng)作需要打開DAMPER,將儲(chǔ)存槽內(nèi)之冷熱溫度導(dǎo)入試驗(yàn)槽內(nèi)從而達(dá)到快速溫度沖擊效果,平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)(BTC)+特殊設(shè)計(jì)之送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng),以P.I.D.方式控制SSR,使系統(tǒng)之加熱量等于熱損耗量,故能長(zhǎng)期穩(wěn)定的使用。

二槽式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)用途:  135 3237 0059張S

用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè),國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件,無一不需要它的理想測(cè)試工具.  

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