四探針 選購(gòu)指南
BEST-300C四探針電阻率測(cè)試儀北廣精儀
Rr=V;R,/V=V/I,……… R,=V,R,/V_=V,/I,- 電阻測(cè)量范圍： 對(duì)于薄層厚度小于3μm的試樣，選用針尖半徑為 100 μm~250 μm的半球形探針或針尖率徑為50 μm～125 pm平頭探針，針尖與試樣間壓力為0.3 N~0.8Ni對(duì)于薄層厚度不小于3μ的試樣，選用針尖半徑為 35 μm~100 pm 半球形操針，針尖與試樣間壓力不大于0.3 N. 當(dāng)直接測(cè)量電流時(shí)，采用式（1）、式（2）最右邊的形式。對(duì)于仲載測(cè)量，R，與R，之差的絕對(duì)值必須小于較大值的 5%。 電阻：1×10-5～2×105Ω R-——通過正向電流時(shí)試樣電阻，單......
￥29000電話：18911397564 18911397564 吳穎 
四探針電阻率方阻測(cè)試儀
金屬四探頭電阻率方阻測(cè)試儀 - HS-MPRT-5 本儀器用來(lái)測(cè)量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器.本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的國(guó)際及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法有關(guān)規(guī)定設(shè)計(jì)。 它主要由電器測(cè)量部份（主機(jī)）及四探頭組成，需要時(shí)可加配測(cè)試架。 為減小體積，本儀器用同一塊數(shù)字表測(cè)量電流及阻率。樣品測(cè)試電流由高精寬的恒流源提供，隨時(shí)可進(jìn)行校準(zhǔn)，以確保電阻率測(cè)量的準(zhǔn)確度。因此本儀器不僅可以用來(lái)分選材料也可以用來(lái)作產(chǎn)品檢測(cè)。對(duì)......
電話：010-60546837 15910963468 肖宗鏞
