無(wú)接觸少子壽命掃描儀 

 

產(chǎn)品介紹:
HS-MWR-2S-3無(wú)接觸少子壽命掃描儀是一款功能異常強(qiáng)大的無(wú)接觸少子壽命掃描儀，能夠?qū)�單晶硅棒、多晶硅塊及硅片提供快速、無(wú)接觸、無(wú)損傷、高分辨率的多功能掃描測(cè)試，其通過(guò)微波光電衰退特性原理來(lái)測(cè)量非平衡載流子壽命的，并且單晶硅棒、多晶硅塊無(wú)須進(jìn)行特殊處理。少子壽命測(cè)試量程從0.1μs到30ms,電阻率要求范圍：0.1-1000Ω.cm,，是太陽(yáng)能電池硅片企業(yè)、多晶鑄錠企業(yè)、拉晶企業(yè)不可多得的測(cè)量?jī)x器。





產(chǎn)品特點(diǎn)


■ 無(wú)接觸和無(wú)損傷測(cè)量


■ 自動(dòng)測(cè)量，具有傳送系統(tǒng)，可進(jìn)行連續(xù)測(cè)量


■ 快速測(cè)量，測(cè)試掃描速度達(dá)到2000mm/min


■ 測(cè)試范圍廣：包括硅塊、硅棒、硅片等少子壽命測(cè)量


■ 主要應(yīng)用于硅棒硅塊、硅片的進(jìn)廠、出廠檢查，生產(chǎn)工藝過(guò)程中重金屬沾污和缺陷的監(jiān)控等。


■ 性?xún)r(jià)比高，極大程度地降低了企業(yè)的測(cè)試成本。





推薦工作條件


■ 溫度：18-26℃
■ 濕度：10%~80%
■ 大氣壓：750±30毫米汞柱





技術(shù)指標(biāo)


■ 少子壽命測(cè)試范圍:0.1μs-20ms


■ 測(cè)試掃描速度:2000mm/min


■ 測(cè)試尺寸:215mm215mm500mm


■ 電阻率范圍：>0.1Ω.cm


■ 激光波長(zhǎng)：904,測(cè)試功率范圍：50-500mw


■ 硅棒硅塊掃描間距：≥1mm


■ 儀器測(cè)試精度：±3.5％，信號(hào)處理偏差≤2％


■ 工作頻率：10GHz±0.5


■ 微波測(cè)試單元功率：0.01W±10%


■ 電源：～220V  50Hz    功耗＜200W


■ 主機(jī)尺寸：365mm 645mm 565mm


■ 主機(jī)重量：30KG[本信息來(lái)自于今日推薦網(wǎng)]