進口無接觸硅片測試儀
概述:[中介]產(chǎn)品介紹 手動硅片測試儀可以測量硅片厚度、總厚度變化TTV、彎曲度,該儀器適用于Si,GaAs,InP,Ge等幾乎所有的材料,所有的設(shè)計都符合ASTM(美國材料實驗協(xié)會)和Semi標(biāo)準(zhǔn),確保與其他工藝儀器的兼容與統(tǒng)
 
產(chǎn)品介紹
手動硅片測試儀可以測量硅片厚度、總厚度變化TTV、彎曲度,該儀器適用于Si,GaAs,InP,Ge等幾乎所有的材料,所有的設(shè)計都符合ASTM(美國材料實驗協(xié)會)和Semi標(biāo)準(zhǔn),確保與其他工藝儀器的兼容與統(tǒng)一。
硅片無接觸測試儀-產(chǎn)品特點
■ 無接觸測量
■適用的晶圓材料包括Si,GaAs,InP,Ge等幾乎所有的材料
■ 厚度和TTV測量采用無接觸電容法探頭
■ 高分辨率液晶屏顯示厚度和TTV值
■ 性價比高
■ 菜單式快速方便設(shè)置
■ 高分辨率液晶LCD顯示
■ 提供和計算機連接的輸出端口
■ 提供打印機端口
■ 便攜且易于安裝
■ 為晶圓硅片關(guān)鍵生產(chǎn)工藝提供精確的無接觸測量
■ 高質(zhì)量微處理器為精確和重復(fù)精度高的測量提供強力保障
■ 高質(zhì)量聚四氟乙烯晶圓測試架,為晶圓硅片精確定位提供保障[本信息來自于今日推薦網(wǎng)]
產(chǎn)品介紹
手動硅片測試儀可以測量硅片厚度、總厚度變化TTV、彎曲度,該儀器適用于Si,GaAs,InP,Ge等幾乎所有的材料,所有的設(shè)計都符合ASTM(美國材料實驗協(xié)會)和Semi標(biāo)準(zhǔn),確保與其他工藝儀器的兼容與統(tǒng)一。
硅片無接觸測試儀-產(chǎn)品特點
■ 無接觸測量
■適用的晶圓材料包括Si,GaAs,InP,Ge等幾乎所有的材料
■ 厚度和TTV測量采用無接觸電容法探頭
■ 高分辨率液晶屏顯示厚度和TTV值
■ 性價比高
■ 菜單式快速方便設(shè)置
■ 高分辨率液晶LCD顯示
■ 提供和計算機連接的輸出端口
■ 提供打印機端口
■ 便攜且易于安裝
■ 為晶圓硅片關(guān)鍵生產(chǎn)工藝提供精確的無接觸測量
■ 高質(zhì)量微處理器為精確和重復(fù)精度高的測量提供強力保障
■ 高質(zhì)量聚四氟乙烯晶圓測試架,為晶圓硅片精確定位提供保障[本信息來自于今日推薦網(wǎng)]

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