無接觸體電阻率型號測試儀
概述:[中介]產(chǎn)品介紹 HS-TRM-100型無接觸式電阻率型號測試儀是基于渦流(Eddy Current)測試技術(shù),能夠?qū)枇、硅棒、硅錠及硅片進行無接觸、無損傷的體電阻率測試。
 
產(chǎn)品介紹
HS-TRM-100型無接觸式電阻率型號測試儀是基于渦流(Eddy Current)測試技術(shù),能夠?qū)枇稀⒐璋、硅錠及硅片進行無接觸、無損傷的體電阻率測試。
無接觸式電阻率型號測試儀-產(chǎn)品特點
■ 測試范圍廣,低阻可測至0.001ohm.cm,甚至0.0007ohm.cm,高阻可測至100ohm.cm
■ 產(chǎn)品體積小,便于移動和攜帶
■ 采用渦流法測試硅錠、棒、回爐料體電阻率
■ 無接觸、無損傷快速測試
■ 測試前無需表面處理
■ 特別對于多晶,能夠有效避免晶界對測試的影響
■ 測試范圍:0.001-100 ohm.cm (分段測試)
■ 可選加無接觸PN型號測試功能
■ 可進行溫度和厚度的修正
無接觸式電阻率型號測試儀-技術(shù)指標(biāo)
■   硅棒硅塊可測量電阻率范圍:0.001-100Ohm.cm
■   最小測試厚度:200μm
■   測量時間:2秒/次
■   最小測試面積:30x30 mm2
■   推薦使用溫度:20℃
■   濕度:≤80%
■   氣壓:86-106kPa
■   使用電壓:230±10V
■   頻率,50±3Hz
■   功率消耗:≤5W
尺寸(LxWxH):280x200x60mm[本信息來自于今日推薦網(wǎng)]
產(chǎn)品介紹
HS-TRM-100型無接觸式電阻率型號測試儀是基于渦流(Eddy Current)測試技術(shù),能夠?qū)枇稀⒐璋、硅錠及硅片進行無接觸、無損傷的體電阻率測試。
無接觸式電阻率型號測試儀-產(chǎn)品特點
■ 測試范圍廣,低阻可測至0.001ohm.cm,甚至0.0007ohm.cm,高阻可測至100ohm.cm
■ 產(chǎn)品體積小,便于移動和攜帶
■ 采用渦流法測試硅錠、棒、回爐料體電阻率
■ 無接觸、無損傷快速測試
■ 測試前無需表面處理
■ 特別對于多晶,能夠有效避免晶界對測試的影響
■ 測試范圍:0.001-100 ohm.cm (分段測試)
■ 可選加無接觸PN型號測試功能
■ 可進行溫度和厚度的修正
無接觸式電阻率型號測試儀-技術(shù)指標(biāo)
■   硅棒硅塊可測量電阻率范圍:0.001-100Ohm.cm
■   最小測試厚度:200μm
■   測量時間:2秒/次
■   最小測試面積:30x30 mm2
■   推薦使用溫度:20℃
■   濕度:≤80%
■   氣壓:86-106kPa
■   使用電壓:230±10V
■   頻率,50±3Hz
■   功率消耗:≤5W
尺寸(LxWxH):280x200x60mm[本信息來自于今日推薦網(wǎng)]

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